1. 主要型號及特點
（1）Vanta Element-S（經(jīng)濟型）
適用場景：基礎礦石分析、礦脈勘探
檢測元素：Mg（鎂）~ U（鈾）
核心優(yōu)勢：
性價比高，適合預算有限的用戶
防塵防水（IP54），適應野外環(huán)境
配備硅漂移探測器（SDD），檢測速度快（1~3秒）
（2）Vanta C系列（高性能）
適用場景：高精度礦石分析、稀土元素檢測
檢測元素：擴展至輕元素（可選配Li、Be等）
核心優(yōu)勢：
超高靈敏度（ppm級檢測限）
可測**稀土元素（REE）**如La、Ce、Nd等
耐艱苦環(huán)境（-10°C~50°C）
（3）Vanta M系列（工業(yè)級）
適用場景：礦山質(zhì)量控制、冶煉廠原料檢測
檢測元素：全元素覆蓋（可選配LIBS測輕元素）
核心優(yōu)勢：
抗摔設計（1.2米跌落測試）
大容量電池（連續(xù)工作8~12小時）
支持云數(shù)據(jù)同步，方便團隊協(xié)作
2. 核心技術：X射線熒光（XRF）
原理：X射線激發(fā)礦石原子，通過熒光光譜分析元素成分。
精度：
主量元素（如Fe、Cu）誤差<1%
微量元素（如Au、Ag）檢測限達ppm級
適用礦石類型：
金屬礦（銅、鐵、鉛鋅、金、銀等）
稀土礦（釹、鑭、鈰等）
工業(yè)礦物（磷灰石、鋁土礦等）
3. 典型應用場景
| 行業(yè) | 具體用途 |
|---|---|
| 地質(zhì)勘探 | 現(xiàn)場快速分析礦脈成分，指導鉆探方向 |
| 礦山開采 | 礦石品位評估（如金礦含金量、銅礦品位） |
| 選礦廠 | 分選高/低品位礦石，優(yōu)化冶煉流程 |
| 環(huán)境監(jiān)測 | 檢測尾礦中的有害元素（如As、Hg、Cd） |
| 貿(mào)易檢測 | 礦石交易中的成分公證，避免摻假 |
4. 使用注意事項
樣品準備：
礦石表面需清潔（去除泥土、氧化層）
顆粒狀樣品需壓片或磨平以提高精度
安全防護：
XRF含微量輻射，避免長時間直射人體
野外使用時注意防塵防潮（盡管IP54防護）
校準維護：
定期用標準礦石樣品校準（如GSD-1A地質(zhì)標樣）
避免高溫、高濕度環(huán)境存放
