實(shí)時(shí)研究顆粒粒徑與粒數(shù) 科學(xué)家將 ParticleTrack 探頭直接插入到過(guò)程流體中，以長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)監(jiān)測(cè)顆粒粒徑與粒數(shù)，而無(wú)需采樣。這種的信息成為有效了解涉及晶體、顆粒和液滴的過(guò)

詳細(xì)介紹

·       實(shí)時(shí)研究顆粒粒徑與粒數(shù)
科學(xué)家將 ParticleTrack 探頭直接插入到過(guò)程流體中，以長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)監(jiān)測(cè)顆粒粒徑與粒數(shù)，而無(wú)需采樣。這種的信息成為有效了解涉及晶體、顆粒和液滴的過(guò)程的基礎(chǔ)。

·       將過(guò)程與顆粒系統(tǒng)相關(guān)聯(lián)
借助 ParticleTrack，科學(xué)家可以定期確定過(guò)程參數(shù)如何影響顆粒系統(tǒng)。可以確定過(guò)程參數(shù)對(duì)生長(zhǎng)、結(jié)塊、破損和形狀變化等機(jī)制的影響，從而可以使用基于證據(jù)的方法對(duì)過(guò)程進(jìn)行優(yōu)化和改進(jìn)。

·       創(chuàng)建符合目的的顆粒系統(tǒng)
科學(xué)家使用 ParticleTrack 來(lái)確定如何穩(wěn)定得到所需粒徑和粒數(shù)的顆粒產(chǎn)品。在研發(fā)、中試到投入生產(chǎn)的過(guò)程中，通過(guò)選擇較佳的過(guò)程參數(shù)，科學(xué)家可以以較低的總成本快速向市場(chǎng)提供高品質(zhì)的顆粒產(chǎn)品。

·       監(jiān)測(cè)并糾正過(guò)程偏差
ParticleTrack 用于對(duì)生產(chǎn)中的既定過(guò)程進(jìn)行監(jiān)測(cè)、故障排除和改進(jìn)。可以安全地監(jiān)測(cè)難以采樣的復(fù)雜過(guò)程，確保一致地生產(chǎn)質(zhì)量盡可能較高的顆粒。

標(biāo)準(zhǔn)窗口封條	Kalrez®
探頭/窗口選件	不適用
額定壓力（探頭）	10 barg
額定溫度（探頭）	-10至120°C
導(dǎo)管長(zhǎng)度	15m [49.2ft]
空氣要求	掃描儀要求：最小壓力： 4barg [60psig]; 流量： 28.3 NL/min [1.0SCFM]
ParticleTrack型號(hào)	ParticleTrack G600B
物料号 (s)

采用 FBRM 技術(shù)的 ParticleTrack G600B 是直接插入到實(shí)驗(yàn)室反應(yīng)器和某些生產(chǎn)過(guò)程中的多用途探頭式儀器，以便在全工藝過(guò)程濃度下實(shí)時(shí)追蹤顆粒和液滴粒徑及粒數(shù)變化。隨著實(shí)驗(yàn)條件的變化，持續(xù)監(jiān)測(cè)顆粒、顆粒結(jié)構(gòu)和液滴為科學(xué)家提供足夠證據(jù)以獲得具有所需屬性的一致顆粒。顆粒粒徑與粒數(shù)直接影響多相工藝中的性能，包括結(jié)晶、乳化和絮凝。通過(guò)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)顆粒粒徑與粒數(shù)，科學(xué)家能夠使用基于證據(jù)的方法自信地了解、優(yōu)化和放大實(shí)驗(yàn)過(guò)程。在為離線分析進(jìn)行采樣和制備時(shí)，顆?？赡馨l(fā)生變化。通過(guò)追蹤過(guò)程中自然存在的顆粒的粒徑與粒數(shù)的變化，科學(xué)家能夠安全且無(wú)延遲地了解工藝過(guò)程 – 甚至是在溫度與壓力條件下。隨著實(shí)驗(yàn)參數(shù)的變化，通過(guò)連續(xù)監(jiān)測(cè)顆粒，能夠較后確定較佳操作條件。在實(shí)驗(yàn)室和工廠中獲得的證據(jù)可用于確保通過(guò)高質(zhì)量的過(guò)程提供適合用途的顆粒。