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WSG-1型電子散斑干涉（ESPI）實(shí)驗(yàn)裝置
- 公司名稱(chēng)：
- 更新時(shí)間：
- 所 在 地：
- 生產(chǎn)地址：
- 瀏覽次數(shù)：
- 天津市拓普儀器有限公司
- 2014-10-23 12:26:04
- 636
【簡(jiǎn)單介紹】
【詳細(xì)說(shuō)明】
本實(shí)驗(yàn)裝置主要面向大專(zhuān)院校教學(xué)使用。本實(shí)驗(yàn)是用激光光束直接照射到測(cè)試表面，再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋，以測(cè)定其離面位移的新型，*的測(cè)試技術(shù)。本實(shí)驗(yàn)裝置可以使學(xué)生了解其原理和測(cè)量的方法。
儀器特點(diǎn)：自己調(diào)節(jié)光路，可提高動(dòng)手能力；
采用了處理光學(xué)信息的CCD測(cè)量技術(shù)
計(jì)算機(jī)處理圖象，軟件操作簡(jiǎn)便
可利用軟件畫(huà)出測(cè)試表面受力變形后的三維立體圖。
成套性：CCD攝像頭、氦氖激光器、圖象采集卡、圖象處理軟件、精密調(diào)節(jié)桿、光學(xué)零件、被測(cè)樣品。
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