薄膜測厚儀

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產(chǎn)品型號CHY-C2

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更新時間：2017-10-17 02:53:09瀏覽次數(shù)：293次

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濟南蘭光機電技術有限公司

經(jīng)營模式：經(jīng)銷商

商鋪產(chǎn)品：35條

所在地區(qū)：山東

聯(lián)系人：蔣娜（銷售代表）

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產(chǎn)品簡介

薄膜測厚儀采用機械式測量方法，適用于塑料薄膜量程范圍內(nèi)各種材料的精確厚度測量。

詳細介紹

薄膜測厚儀采用機械式測量方法，適用于塑料薄膜量程范圍內(nèi)各種材料的精確厚度測量。符合GB 6672塑料薄膜和薄片厚度的測定--機械測量法、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASMT D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等測試標準。
　　本測厚儀采用進口優(yōu)質傳感器，測厚分辯率高達0.1微米，選用優(yōu)質傳動元件，確保了試驗結果的穩(wěn)定性與準確性。大液晶屏顯示，操作簡便，配備微型打印機直接打印試驗報告。另外具有電腦通信接口，通過選購軟件實現(xiàn)數(shù)據(jù)的*性存儲、查詢、打?。卉浖δ軓姶?，可將成組試驗數(shù)據(jù)用柱形圖或列表方式進行統(tǒng)計，試結報告可直接在局域網(wǎng)或廣域網(wǎng)中進行傳輸。

薄膜測厚儀技術指標
測量范圍：0～2mm常規(guī)0～6mm可選
分辨率:0.1μm
測量速度：10次/min可調
測量壓力：17.5±1kPa薄膜；〔50±1kPa紙張〕
接觸面積：50mm2薄膜；〔200mm2（紙張）〕

了解詳細信息，敬請致電
本信息由LABTHINK蘭光銷售部?。骸∈Y娜　發(fā)布。