DRE-2C導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀（瞬態(tài)平面熱源法）

DRE-2C導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀采用瞬態(tài)平面熱源法，主要測(cè)量固體、粉末、涂層、薄膜、各向異性材料等的導(dǎo)熱系數(shù)、導(dǎo)溫系數(shù)（熱擴(kuò)散系數(shù)）和比熱。本儀器基于TPS瞬態(tài)平面熱源技術(shù)，用Hot Disk作為探頭的導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定儀。Hot Disk法的優(yōu)點(diǎn)有：（1）直接測(cè)量熱傳播，可以節(jié)約大量的時(shí)間；（2）不會(huì)和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響；（3）無須特別的樣品制備，只需相對(duì)平整的樣品表面。

 主要技術(shù)指標(biāo)：

1、導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定范圍：0.01—100W/mk

2、測(cè)量時(shí)間：1-600秒

3、準(zhǔn)確度：優(yōu)于5％

4、溫度范圍：標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量：室溫，（可根據(jù)客戶要求選配各種溫度段的測(cè)試溫度，費(fèi)用另計(jì)：如-20℃～120℃）

5、樣本尺寸：大于15mm高，大于直徑45mm相對(duì)平整的樣品表面