CH-1-S測(cè)厚儀(薄膜) 

本測(cè)厚議適用于機(jī)械測(cè)量法測(cè)定塑料薄膜和薄片的厚度（不適用于壓花的薄膜和薄片）。
本測(cè)厚儀執(zhí)行GB-T6672-2001標(biāo)準(zhǔn)

CH-1-S測(cè)厚儀(薄膜) 

◎量限:0-1mm
◎分度值:0.001mm  
◎上測(cè)頭曲率半徑:15-50mm 
◎測(cè)頭對(duì)試樣施加負(fù)荷:0.1-0.5N
◎測(cè)量精度: 100vm以內(nèi) <1vm/100-250vm <2vm/250vm <3vm 
◎執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):GB6672-86 
◎本測(cè)厚儀適用于機(jī)械測(cè)量法測(cè)定塑料薄膜和薄片的厚度(不適用于壓花的薄膜和薄片).

◎量限:0-1mm
◎分度值:0.001mm  
◎上測(cè)頭曲率半徑:15-50mm 
◎測(cè)頭對(duì)試樣施加負(fù)荷:0.1-0.5N
◎測(cè)量精度: 100vm以內(nèi) <1vm/100-250vm <2vm/250vm <3vm 
◎執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):GB6672-86 
◎本測(cè)厚儀適用于機(jī)械測(cè)量法測(cè)定塑料薄膜和薄片的厚度(不適用于壓花的薄膜和薄片).