·直觀的、點(diǎn)擊式Windows操作環(huán)境
·吉時(shí)利4200-SCS半導(dǎo)體I-V測(cè)試系統(tǒng)*的遠(yuǎn)端前置放大器，將SMU的分辨率擴(kuò)展至0.1fA
·吉時(shí)利4200KEITHLEY4200用于高級(jí)半導(dǎo)體測(cè)試的新型脈沖與脈沖式I-V功能
·集成了示波與脈沖測(cè)量功能的新型示波卡
·內(nèi)置PC提供快速的測(cè)試設(shè)置、強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析、制圖與打印、以及測(cè)試結(jié)果的大容量存儲(chǔ)
·*的瀏覽器風(fēng)格的軟件界面，根據(jù)器件的類型來(lái)安排測(cè)試，可以執(zhí)行多項(xiàng)測(cè)試并提供測(cè)試序列與循環(huán)控制功能
·吉時(shí)利4200-SCS系列內(nèi)置了Stress/Measure，循環(huán)和數(shù)據(jù)分析功能，通過(guò)鼠標(biāo)點(diǎn)擊方式就可進(jìn)行可靠性測(cè)試，包括5個(gè)JEDEC規(guī)范的樣品測(cè)試
·支持 Keithley590 型與 Agilent 4284/4294型C-V儀、Keithley開關(guān)矩陣與Agilent 81110脈沖發(fā)生器等多種外圍設(shè)備
·硬件由keithley交互式測(cè)試環(huán)境（KITE）來(lái)控制，用戶測(cè)試模塊功能，可用于外接儀表控制與測(cè)試平臺(tái)集成，是KITE功能的擴(kuò)充
·包括驅(qū)動(dòng)軟件，支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300，Micromanipulator 的8860自動(dòng)和手動(dòng)探針臺(tái)
·支持*的半導(dǎo)體模型參數(shù)提取，包 括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso

容易使用的吉時(shí)利4200-SCS型半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)用于實(shí)驗(yàn)室級(jí)的器件直流參數(shù)測(cè)試、實(shí)時(shí)繪圖與分析，具有高精度和亞f*的分辨率。它提的系統(tǒng)集成能力，包括完整的嵌入式PC機(jī)，WindowsNT操作系統(tǒng)與大容量存儲(chǔ)器。其自動(dòng)記錄、點(diǎn)擊式接口加速并簡(jiǎn)化了獲取數(shù)據(jù)的過(guò)程，這樣用戶可以更快地開始分析測(cè)試結(jié)果。

KEITHLEY4200-SCS 相關(guān)應(yīng)用:
半導(dǎo)體器件
·片上參數(shù)測(cè)試
·晶圓級(jí)可靠性
·封裝器件的特性分析
·使用Model4200-SCS控制外部LCR表進(jìn)行C-V、I-V特性分析
·高K柵電荷俘獲
·易受自加熱效應(yīng)影響的器件和材料的等溫測(cè)試
·電荷泵方法分析MOSFET器件的界面態(tài)密度
·電阻式或電容式MEMS驅(qū)動(dòng)特性分析
光電器件
·半導(dǎo)體激光二極管DC/CW特性分析
·收發(fā)模塊DC/CW特性分析
·PIN和APD特性分析
科技開發(fā)
·碳納米管特性分析
·材料研究
·電化學(xué)