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時(shí)代TIME2601覆層測厚儀

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時(shí)代TIME2601覆層測厚儀

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時(shí)代TIME2601覆層測厚儀

時(shí)代TIME2601覆層測厚儀概述

時(shí)代TIME2601覆層測厚儀是一種便攜式測量儀，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場。通過使用不同的測頭，還可滿足多種測量的需要。本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量磁性方法GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量渦流方法JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》JJG 818─93 《電渦流式測厚儀》。可以廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。

時(shí)代TIME2601覆層測厚儀

時(shí)代TIME2601覆層測厚儀功能特點(diǎn)

采用了磁性和渦流兩種測厚方法，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；
可使用8種測頭(F400、F1、F1/90°、F3、F5、F10、N1、CN02)；
具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)；
設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測量次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）；
可采用兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
具有存貯功能：可存貯640個(gè)測量值；
具有刪除功能：對(duì)測量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測量；
可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測量值能自動(dòng)報(bào)警；并可用直方圖對(duì)一批測量值進(jìn)行分析；
具有打印功能：可打印測量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖；
具有電源欠壓指示功能；
操作過程有蜂鳴聲提示；
具有錯(cuò)誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示；
設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式；

時(shí)代TIME2601覆層測厚儀技術(shù)參數(shù)

測頭類型：可選，見覆層測厚儀探頭參數(shù)表
測量原理：磁感應(yīng)和電渦流
測量范圍：0-1250um | 0-1250um 0-40um(銅上鍍鉻)
低限分辨力：0.1um
探頭連接方式：分體
示值誤差：F | N

1. 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[3%H+1]

2. 兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[（1%~3%）H+1]

3. 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[3%H+1.5]

4. 兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[（1%~3%）H+1.5]

測量條件：F | N

1. 最小曲率半徑(mm)：凸1.5 | 凹9

2. 基體最小面積的直徑(mm)：ф7

3. 最小臨界厚度(mm)：0.5

4. 最小曲率半徑(mm)：凸3 | 凹10

5. 基體最小面積的直徑(mm)：ф5

6. 最小臨界厚度(mm)：0.3

溫濕度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
統(tǒng)計(jì)功能：平均值、值（MAX）、最小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差
工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
上下限設(shè)置：有
存儲(chǔ)能力：640個(gè)測量值
關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)和自動(dòng)
電源：充電電池

時(shí)代TIME2601覆層測厚儀探頭參數(shù)

測頭型號(hào)		F400		F1	F1/90°	F3	F5	F10	N1	CN02
測量范圍(um)		0～400		0～1250	0～1250	0-3000	0-5000	0～10000	0～1250(銅上鍍鉻0～40)	10～200
低限分辨力(um)		0.1		0.1	0.1	1	1	10	0.1	1
示值	一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)	±(3%H+1)			±(3%H+1)	±(3%H+1)	±(3%H+1)	±(3%H+10)	±(3%H+1.5)	±(3%H+1)
誤差	二點(diǎn)校準(zhǔn)(um)	±((1～3)%H+0.7)		±((1～3)%H+1)		±((1～3)%H+3)	±((1～3)%H+5)	±((1～3)%H+10)	±[(1～3)%H+1.5]
測試條件	zui小曲率半徑(mm)	凸	1	1.5	平直			10	3	僅為平直
	zui小面積的直徑(mm)	F3		F7	F7			F40	F5	F7
	基體臨界厚度(mm)	0.2		0.5	0.5			2	0.3	無限制

注：H——標(biāo)稱值
測頭選用參考表：

覆蓋層基體		有機(jī)材料等非磁性覆蓋層（如漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽極化處理等）		非磁性的有色金屬的覆層（如鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等）
覆蓋層基體		覆蓋層厚度不超過100μm	覆蓋層厚度超過100μm	覆蓋層厚度不超過100μm	覆蓋層厚度超過100μm
如鐵、鋼等磁性金屬	被測面積的直徑大于30mm	F1型測頭0-1250μm F400型測頭0-400μm	F1型測頭0-1250μm F10型測頭0-10mm	F400型測頭0-400μm F1型測頭0-1250μm	F1型測頭0-1250μm F10型測頭0-10mm
如鐵、鋼等磁性金屬	被測面積的直徑小于30mm	F400型測頭0-400μm	F1型測頭0-1250μm F400型測頭0-400μm	F400型測頭0-400μm	F400型測頭0-400μm F1型測頭0-1250μm
如銅、黃銅、鋁、鋅、錫等有色金屬	被測面積的直徑大于5mm	N1型測頭0-1250μm		N1型測頭只能測銅上鍍鉻0-40μm
塑料、印刷線路板等非金屬基體	被測面積的直徑小于7mm	-	-	CN02型測頭10-200μm （主要用途測銅箔厚度）