當(dāng)前位置：北京金三航科技發(fā)展有限公司>>集成電路測試儀>>SWA1024大規(guī)模集成電路篩選測試儀

SWA1024大規(guī)模集成電路篩選測試儀

返回列表頁

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號SWA1024

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地北京市

在線詢價收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

化工機(jī)械設(shè)備網(wǎng)采購部電話：0571-88918531QQ:2568841715

聯(lián)系方式：查看聯(lián)系方式

更新時間：2022-09-22 10:09:19瀏覽次數(shù)：66次

聯(lián)系我時，請告知來自化工機(jī)械設(shè)備網(wǎng)

產(chǎn)品分類 品牌分類

  集成電路測試儀

全部產(chǎn)品列表

暫無信息

北京金三航科技發(fā)展有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：253條

所在地區(qū)：北京北京市

詢價 給他留言

產(chǎn)品簡介

詳細(xì)介紹

1024通道

器件測試圖例：

集成電路測試截圖：

可以放大觀看單個管腳PIN

測試通道：

二維V-I動態(tài)阻抗端口測試通道：1024路
二維V-I動態(tài)阻抗端口矩陣測試通道：1024路
三維V-I-F動態(tài)阻抗端口測試通道：1024路
設(shè)備可以64通道為步進(jìn)擴(kuò)充到2048組測試通道

功能用途：

1）集成電路的來料質(zhì)量控制檢測與篩選、一致性檢測；
2）可用于集成電路、元器件研發(fā)測試；三維立體動態(tài)阻抗測試；
3）快速篩選、仿制集成電路及元器件；
4）對不良器件進(jìn)行三維動態(tài)阻抗失效分析；
5）非加電條件下對集成電路、電路板進(jìn)行全面的端口動態(tài)阻抗測試分析；
6）快速準(zhǔn)確定位失效集成電路故障管腳，高效查找故障電路板的失效I/O管腳；
7）測試安全可靠，全面解決器件工藝、電路板工藝問題，快速解決集成電路及電路板故障點(diǎn)定位問題；
8）進(jìn)行集成電路和電路板阻抗一致性檢測；
9）專業(yè)操作管理平臺：可根據(jù)需求編輯測試流程程序，完成自定義化測試，軟件管理平臺兼容其他廠商設(shè)備。測試流程的制定貫穿整個測試過程，使集成電路、電路測試的過程形成標(biāo)準(zhǔn)的測試流程（維修流程、生產(chǎn)流程）。保證了測試工藝的一致性，排除人為因素的干擾。使測試簡單、容易、標(biāo)準(zhǔn)化。

技術(shù)規(guī)格：

二維V-I動態(tài)阻抗端口測試通道：1024路
二維V-I動態(tài)阻抗端口矩陣測試通道：1024路
三維V-I-F動態(tài)阻抗端口測試通道：1024路
設(shè)備可以64通道為步進(jìn)擴(kuò)充到2048組測試通道
實(shí)時探筆對比測試通道：4路
同步脈沖信號：4路
測試電壓范圍：2V ～ 50Vp-p；
顯示圖形模式：V-I、V-T、V-I-F、V-T-F；
信號電流范圍：1μA to 150mA
測試阻抗范圍：100Ω ～ 1MΩ；
三維立體V-I-F測量方式：掃頻；
同步脈沖輸出模式：單脈沖、雙脈沖、三脈沖、四脈沖；
同步信號振幅:可調(diào)式由 +10 V ~- 10V；

主要優(yōu)勢：

1）提供軟件開發(fā)平臺，兼容其他廠商測試設(shè)備；
2）*的V-T模式可測量器件的開關(guān)時間特性（配合同步脈沖）；可設(shè)定同步脈沖信號的寬度,進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測試?？蓽y試三段期間開關(guān)時間特性。
3）動態(tài)阻抗分析功能，可以對三維圖形進(jìn)行參數(shù)的測量；
4）變頻或掃頻三維立體V-I-F測量方式，三維立體顯示器件的端口特性曲線，可以查找與器件頻率有關(guān)的故障。檢查與頻率特性有關(guān)的器件或集成電路。
5）非加電條件下靜態(tài)診斷集成電路, 不必外加電源即可進(jìn)行測試。測試更安全：矩陣式掃頻測試，脈沖輸出進(jìn)行的動態(tài)V/T測試。