產(chǎn)品簡介:
目前,對中小規(guī)模數(shù)字IC進(jìn)行簡單的邏輯功能測試,已不能滿足IC用戶的測試需求。市場上所見到的<功能測試儀>無法對IC器件進(jìn)行直流參數(shù)測試和比較,因此會把74LS373與74LS374、74LS352、74LS353、74LS125與74LS32及OC門與圖騰柱輸出門等功能性能特性*不一致的器件混為一類。<功能測試儀>實(shí)用價值很低,用這類儀器測試通過后的IC,有時上機(jī)卻不能正常使用。給生產(chǎn)及調(diào)試人員增添了不少煩惱!
GT2100A數(shù)字集成電路多參數(shù)測試儀,幫助您解決這類煩惱!
GT2100A 數(shù)字集成電路多參數(shù)測試儀,利用的多值參數(shù)比較法,可以對數(shù)字IC進(jìn)行功能測試的同時完成各項(xiàng)直流參數(shù)測試。GT2100A*可以滿足IC用戶的參數(shù)測試要求。GT2100A是一種性能實(shí)用、操作簡單、測試可信度高、成本低廉的測試儀器。
數(shù)字集成電路多參數(shù)測試儀GT2100A 適合器件生產(chǎn)廠、整機(jī)生產(chǎn)廠作器件測試篩選之用,也適合科研、學(xué)校、、IC經(jīng)銷商使用。
1. 測試電源拉偏狀態(tài)下,輸出電平加載測試。
2. 對輸出電流、輸出電壓直流參數(shù)進(jìn)行測試的同時,完成真值表功能測試。
3. 真值表功能測試的同時,完成“三態(tài)”(高阻狀態(tài))漏電流測試。
4. 對IC輸入電流、功耗電流測試。
5. 輸入漏電流及交叉漏電流測試。
6. 測試過程無須人工干預(yù)。
7. 用戶可以自選測試模式,使用方便、操作簡潔。
8. 可自動識別74系列中的CMOS器件。
9. 可以查找未知IC的型號。
在功能測試的基礎(chǔ)上
1. 測試器件的輸入端注入電流。
2.測試器件的輸入端交叉漏電流。
3.測試器件的輸出端“三態(tài)”及“OC”門。
4. 測試器件的輸出負(fù)載電流。
5. 測試器件的功耗電流。
6.查找未知芯片型號。
7. 可以單次測試,也可以循環(huán)測試.
8.可自動識別74系列中的CMOS器件(如:74C、74HC、74HCT等)。當(dāng)被測芯片被確認(rèn)為74系列CMOS器件時,儀器將自動地對其進(jìn)行測試并在顯示屏前顯示一個“C”字(此時被測器件電源為TTL電源)。
1.8種可選擇的測試電源。
2.根據(jù)不同材料的IC設(shè)置多種輸入端注入電流。
3. 多種測試電壓比較值。
4. 功耗測試。
以上參數(shù)的不同組合構(gòu)成不同的測試模式,其中包括用戶自定義模式及全組合測試模式。
1.模式O: 全組合參數(shù)測試。
2.模式1-C:操作與模式O相同,但各有其不同的測試參數(shù)數(shù)值。
3.模式D: 任選輸入負(fù)載電流及測試電源和輸入電流測試。
4.模式E: 自檢。內(nèi)容包括計算機(jī)部分、顯示、鍵盤及測試管腳電路。
5.模式F: 自編程測試。
1. 54 系列;4500 系列;
2. RAM 256K bit
3.74 系列;40000 系列;
4. EPROM 64K bit
5. 4000 系列;C00 系列。
6.光耦