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上海思為儀器制造有限公司


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GSS602超聲掃描顯微鏡-非標(biāo)IGBT

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產(chǎn)品型號

品       牌

廠商性質(zhì)其他

所  在  地上海市

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所在地區(qū):上海上海市

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產(chǎn)品簡介

SHSIWIGSS602超聲掃描顯微鏡技術(shù)規(guī)格書一、基本信息超聲掃描顯微鏡(SAT)是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設(shè)備,主要利用高頻超聲波,對各類半導(dǎo)體器件、材料進(jìn)行檢測,能夠檢測出樣品內(nèi)部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷,并以圖形的方式直觀展示

詳細(xì)介紹

SHSIWI GSS602超聲掃描顯微鏡

技術(shù)規(guī)格書

一、基本信息

超聲掃描顯微鏡(SAT)是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設(shè)備,主要利用高頻超聲波,對各類半導(dǎo)體器件、材料進(jìn)行檢測,能夠檢測出樣品內(nèi)部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷,并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中,不會對樣品造成損傷,不會影響樣品性能,可滿足陶瓷基板、IGBT、水冷散熱器、電池、半導(dǎo)體、電器焊接件、金剛石復(fù)合材料、碳纖維復(fù)合材料等產(chǎn)品質(zhì)控需求。

 

1.1 產(chǎn)品名稱

超聲掃描顯微鏡

1.2 數(shù)量

1

1.3 規(guī)格型號

型號

機(jī)器示意圖

SHSIWI GSS602

 

 

注:上圖僅供參考,實(shí)際產(chǎn)品可能會有所差別

1.4 機(jī)電特性

機(jī)電特性

規(guī)格型號

整機(jī)尺寸

1000mm×900mm×1400mm(僅參考)

水槽尺寸

640mm×700mm×280mm

探測方式

反射式;雙C掃探頭配置

有效掃描范圍

每個C掃探頭為400mm×280mm×150mm的掃描區(qū)域,且兩個C掃區(qū)域獨(dú)立,不支持掃描結(jié)果的拼接。

掃描工作模式

支持A/B/C掃描,支持一次多層分層C

******掃描速度

雙通道C掃:800mm/s

圖像推薦分辨率

14000um

重復(fù)定位精度

X≤±0.003mm,Y≤±0.01mm

支持頻率范圍

10~230MHz

上下水

水壓注水,水泵排水。



二、廠務(wù)安裝條件

2.1 設(shè)備尺寸

設(shè)備整機(jī)尺寸1000mm(長)×900mm(寬)×1400mm(高)。安裝方案基于空間占用最小化和維護(hù)/服務(wù)條件化的需要,保證在設(shè)備周圍留有500mm的空間,可以方便工作人員進(jìn)行操作、維護(hù)。

2.2 電腦桌

設(shè)備配有電腦桌,用于安放鼠標(biāo)、鍵盤及顯示器。用戶也可自行配備。

2.3 電力供應(yīng)

工作電源:220V±10%/50Hz,1~2KW另外,設(shè)備配有UPS電源,以保護(hù)設(shè)備運(yùn)行安全。

2.4 水源:

設(shè)備需要自來水、去離子水或者純凈水,并且需要定期更換。水溫要求:1530℃

2.5 環(huán)境相對濕度:35℃≤50RH

2.6 環(huán)境溫度要求:2035℃

2.7 周邊環(huán)境:

不要放在強(qiáng)磁場、電磁波和產(chǎn)生高頻設(shè)備的旁邊。

減少振動。10Hz以下振動的******振幅 0.7μm PP以下。

灰塵少、濕氣少,沒有腐蝕性氣體的地方。

電源的變化,限制到最小。

為了防止地震的損壞,四周一定要固定。

三、設(shè)備主要配置表

序號

名稱

規(guī)格

1

掃描系統(tǒng)

X軸:超高性能線性馬達(dá),具有內(nèi)置磁力機(jī)構(gòu),配合精度0.1um 精度線性光柵尺精確定位;

Y軸:絲桿模組;

Z軸:步進(jìn)馬達(dá)系統(tǒng),一前一后各有 1 Z , 可分別單獨(dú)對焦

2

超聲探頭

根據(jù)IGBT常用探頭:配備50MHz1.0in*2顆,25MHZ2.0in*2

3

超聲發(fā)射、接收器

帶寬500MHz

4

高速數(shù)據(jù)采集卡

采樣頻率 1GHz

5

工控機(jī)

Intel 12核處理器 i7-12700,16GB*2 內(nèi)存,2T  +256SSD硬盤,Windows 10-64 位操作系統(tǒng),USB 及網(wǎng)絡(luò)接口

6

顯示器

兩個27"液晶顯示器

7

檢測軟件

思為 超聲無損檢測軟件V2.0

 

四、IGBT模塊多層結(jié)構(gòu)檢測能力

測量能力

能力描述

標(biāo)準(zhǔn)塊測量誤差

測量機(jī)械加工的標(biāo)準(zhǔn)塊,在軟件進(jìn)行強(qiáng)度校準(zhǔn)的前提下,超聲檢測多次測量誤差在±1%。

多層掃描方式

具備多層掃描功能,可一次性掃描底板-DBC焊接層、DBC下銅層-DBC陶瓷結(jié)合層、DBC陶瓷-DBC上銅層、DBC上銅層-芯片焊接層、芯片-樹脂結(jié)合層缺陷。

最多可同時掃描50層。

雙觸發(fā)模式

可選擇設(shè)置雙觸發(fā)模式,減少焊料層厚度變化導(dǎo)致的數(shù)據(jù)門偏離目標(biāo)波形。

缺陷識別能力

在測量系統(tǒng)厚度能力范圍內(nèi),被測材料聲速在標(biāo)準(zhǔn)材料聲速±5%以內(nèi)的情況下,且超聲入射表面為平面的被測產(chǎn)品的水平方向的結(jié)合缺陷的識別能力為0.15毫米(15MHz、25MHz探頭)和0.07毫米(50MHz探頭)。

缺陷著色與統(tǒng)計功能

可自由設(shè)置缺陷著色閾值對缺陷進(jìn)行著色處理,根據(jù)著色效果,統(tǒng)計單一缺陷面積和整體缺陷面積及缺陷占比。

定制服務(wù)

可根據(jù)客戶要求定制IGBT防水治具。

、軟件功能

軟件功能

功能描述

手動掃描

可以通過手動的方式生成C掃描圖像,反映被檢焊接結(jié)合面結(jié)合情況,并以釬著率、缺陷面積等數(shù)值的形式顯示檢測結(jié)果。

探頭與C掃圖像對位

可通過點(diǎn)擊C 掃圖的具體像素點(diǎn)將探頭移至與實(shí)際被檢工件相對應(yīng)的位置。

手動分析

對生成的C掃圖片可以進(jìn)行各種編輯,包括加框(確認(rèn)有效分析區(qū)域),測距,修改閾值,圖片剪裁,弧面補(bǔ)償?shù)取?/span>

多種掃描模式

1A掃描:查看超聲反射或透射波形;

2 B掃描:對某一截面內(nèi)的超聲波信號,以灰度或彩色的形式顯示在二維平面內(nèi),橫坐標(biāo)代表掃查機(jī)構(gòu)的位移方向,縱坐標(biāo)代表超聲波傳播的深度方向,反映缺陷在樣品內(nèi)的相對深度信息;

3C掃描:對某一深度的截面進(jìn)行掃描,是X-Y二維平面內(nèi)移動并選取A掃描特定深度的點(diǎn)的信號成像,顯示的是水平截面的缺陷信息;

4) 區(qū)域掃描:可自定義檢測區(qū)域,并對檢測區(qū)域進(jìn)行掃描;

5) 批量掃描:對放置于水槽中的一種或多種工件進(jìn)行自動檢測;

6一次多層掃:同時掃描≤50層。

報告自動生成

可對檢測結(jié)果自動進(jìn)行編輯并輸出報告文檔。

探頭管理

可對不同型號探頭進(jìn)行更換或編輯。

一鍵自動校準(zhǔn)

可自動對檢測設(shè)備坐標(biāo)偏移及檢測系統(tǒng)能量變化,能實(shí)時校準(zhǔn)系統(tǒng)漂移,保證檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。

不銹鋼標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)度

系統(tǒng)自帶滿足GBT 11259-2015《超聲波檢測用鋼對比試塊的制作與校驗(yàn)方法》的不銹鋼標(biāo)準(zhǔn)塊。認(rèn)定該不銹鋼標(biāo)準(zhǔn)塊的超聲反射強(qiáng)度=100 STSS“STainless Steel Standard"的縮寫),其他所有材料的檢測相對于STSS做換算。

缺陷檢測能

焊接缺陷、粘接缺陷、封裝分層、粘片空洞等區(qū)域和良好區(qū)域。

可對缺陷尺寸和面積進(jìn)行自動統(tǒng)計和計算。也可根據(jù)客戶的要求,提供有償定制開發(fā)服務(wù)。

聲速檢測

聲音在被測材質(zhì)中的飛行速度檢測。

 

六、標(biāo)準(zhǔn)材料聲速表

材料

聲速(m/s

Aluminum

6305

Steel,common

5920

不銹鋼

Steel,stainless

5740

黃銅

Brass

4399

Copper

4720

Iron

5930

Sliver

3607

Gold

3251

Titanium

5990

聚氯乙烯

PVC

2388

樹脂

resin

4076

金剛石

diamond

14000

zinc

4170

有機(jī)玻璃

Organic glass

2730

陶瓷

ceramic

5842

tin

3230

water

1500

 

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