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介質(zhì)損耗介電常數(shù)測(cè)試儀

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介電常數(shù)測(cè)試儀GDAT-C

介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀

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工頻介電常數(shù)測(cè)試儀

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介質(zhì)損耗介電常數(shù)測(cè)試儀

詳細(xì)介紹

介質(zhì)損耗介電常數(shù)測(cè)試儀特點(diǎn)：

◎ 本公司創(chuàng)新的自動(dòng)Q值保持技術(shù)，使測(cè)Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能對(duì)固體絕緣材料在10kHz～120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測(cè)試。

◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值，測(cè)試頻率，調(diào)諧狀態(tài)等。

◎ Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。

◎ DPLL合成發(fā)生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測(cè)試信號(hào)。獨(dú)立信號(hào) 源輸出口，所以本機(jī)又是一臺(tái)合成信號(hào)源。

◎ 測(cè)試裝置符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

介質(zhì)損耗介電常數(shù)測(cè)試儀電感器：

按測(cè)試頻率要求，需要配置不同量的電感器。

例如：在1MHz測(cè)試頻率時(shí)，要配250μH電感器，在50MHz測(cè)試頻率時(shí)，要配0.1μH電感器等。

高頻介質(zhì)樣品（選購(gòu)件）：
在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中，檢定部門為高頻介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x提供的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。

該樣品由人工藍(lán)寶石，石英玻璃，氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測(cè)試樣品。用戶可按需訂購(gòu)，以保證測(cè)試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。

工作特性

1．Q值測(cè)量

a．Q值測(cè)量范圍：2～1023；

b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔；

c．標(biāo)稱誤差

	A	C
頻率范圍	25kHz～10MHz	100kHz～10MHz
固有誤差	≤5％±滿度值的2%	≤5％±滿度值的2%
工作誤差	≤7％±滿度值的2%	≤7％±滿度值的2%
頻率范圍	10MHz～60MHz	10MHz～160MHz
固有誤差	≤6％±滿度值的2%	≤6％±滿度值的2%
工作誤差	≤8％±滿度值的2%	≤8％±滿度值的2%

2．電感測(cè)量范圍

A	C
14.5nH～8.14H	4.5nH～140mH

3．電容測(cè)量

	A	C
直接測(cè)量范圍	1～460p	1～205p
主電容調(diào)節(jié)范圍	40～500pF	18～220pF
準(zhǔn)確度	150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1%	150pF以下±1.5pF 150pF以上±1%

注：大于直接測(cè)量范圍的電容測(cè)量見使用方法。

4．信號(hào)源頻率覆蓋范圍

	A	C
頻率范圍	10kHz～60MHz	0.1～160MHz
CH1	10～99.9999kHz	0.1～0.999999MHz
CH2	100～999.999kHz	1～9.99999MHz
CH3	1～9.99999MHz	10～99.9999MHz
CH4	10～60MHz	100～160MHz
頻率指示誤差	3×10-5±1個(gè)字