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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡

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特點(diǎn)：實(shí)現(xiàn)了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率JEM-ARM300F配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，加速電壓可達(dá)300kV，是一款原子級(jí)分辨率電子顯微鏡

詳細(xì)介紹

特點(diǎn)：

實(shí)現(xiàn)了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率

JEM-ARM300F配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，加速電壓可達(dá)300kV，是一款原子級(jí)分辨率電子顯微鏡。實(shí)現(xiàn)了高的STEM-HAADF像分辨率。

STEM-HAADF像的保證分辨率達(dá)到了的58pm

采用JEOL自主研發(fā)的球差校正器，掃描透射像(STEM像)的保證分辨率可達(dá)58pm(300kV,超高分辨率極靴、使用STEM球差校正器時(shí))。

ETA校正器 JEOL自主研發(fā)的12極球差校正器　※選配件

ETA校正器(Expanding trajectory aberration corrector)是JEOL研發(fā)的擴(kuò)展軌道型12極球差校正器?？梢栽谟脩衄F(xiàn)場(chǎng)加裝STEM球差校正器及TEM球差校正器。

強(qiáng)大的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍HyperCF300

標(biāo)配了全新設(shè)計(jì)的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍,低能散、高亮度電子束能提供高分辨率觀察和分析。

兩種物鏡極靴

為了支持用戶廣泛的需求，研發(fā)了兩種各具特點(diǎn)的物鏡極靴。

豐富的選購(gòu)件

能安裝超大立體角EDS(能譜儀)、EELS(電子能量損失譜儀)、背散射電子檢測(cè)器及四種STEM觀察檢測(cè)器。

大范圍的加速電壓設(shè)置

標(biāo)配300kV和80kV下的球差校正數(shù)據(jù),可選的加速電壓范圍從40KV?300kV，使用范圍極廣。

新開發(fā)的真空系統(tǒng)

新的排氣系統(tǒng)達(dá)到了的真空度，在原子尺度的圖像觀察和分析中，限度地減輕了對(duì)樣品的污染和損傷。

高穩(wěn)定的鏡筒和樣品臺(tái)

整體穩(wěn)定性高、直徑330mm的鏡筒增加了機(jī)械剛度，在JEM-ARM200F高度穩(wěn)定的技術(shù)基礎(chǔ)之上，把電氣穩(wěn)定性和對(duì)環(huán)境的抗力提高到新高度。

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