殘余奧氏體衍射儀

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山東領創(chuàng)測試儀器有限公司

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產品簡介

本產品可精確測量殘余奧氏體的含量，對于熱處理的控制是非常重要的，X射線衍射法（XRD）是可以測量殘余奧氏體百分比含量低至0.5%的方法，殘余奧氏體的測量遵循國際標準ASTME975-03規(guī)則

詳細介紹

本產品可精確測量殘余奧氏體的含量，對于熱處理的控制是非常重要的，X射線衍射法（XRD）是可以測量殘余奧氏體百分比含量低至0.5%的方法，殘余奧氏體的測量遵循國際標準ASTM E975-03規(guī)則。

X射線衍射法可以準確測定鋼熱處理后殘余奧氏體的含量，能夠為鋼鐵熱處理過程控制提供可靠保證，提高產品質量。

X射線衍射法是目前為止測量鋼體中殘余奧氏體含量最準確的方法。根據ASTM E975-03的X射線測量鋼中殘余奧氏體近晶體隨機取向的標準方法，ARE X這款儀器能夠很輕松檢測出鋼體中殘余奧氏體的含量。

X射線發(fā)生器	輸出功率	3KW
	輸出穩(wěn)定性	<0.01% (電源供給10%的波動）
	輸出電壓	60KV
	輸出電流	60mA
	電壓步寬	0.1KV
	電流步寬	0.1mA
	波動	0.03% rms < 1kHz, 0.75% rms > 1kHz
	預熱與電路	自動預熱和斜坡控制電路
	輸入電壓	230 V +/- 10%, 50 或60 Hz, 單相
X射線光管	光管類型	玻璃（可選陶瓷），Mo靶材，細焦斑（可根據要求選其他型號）
	焦斑尺寸	0.4 x 8 mm FF (可選0.4 x 12 mm LFF; 1 x 10 mm NF)
	準直	單毛細管準直器:直徑1 - 2毫米
	輸出電壓	3KV
測角儀	配置	垂直測角儀
	掃描角范圍	27° < 2θ< 40°
	角準確度	± 0.001°
樣品臺	尺寸	110 mm x 150 mm
探測器	類型	高分辨率，帶直接耦合（微米）光纖輸入的X射線數碼攝像儀和帶制冷CCD
機體	尺寸	658 mm X1059 mm X762 mm
機體	X射線泄露量	< 1 mSv/年（按照國際準則充分安全屏蔽）
處理單元	計算機類型	個人計算機
	控制對象	X射線發(fā)生器、探測器和數據庫
	基本數據處理	建立校準曲線，殘余奧氏體計算