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GCSTD-D自動(dòng)化高低頻介電常數(shù)測(cè)試儀

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  介電常數(shù)測(cè)試儀

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北京中科微納精密儀器有限公司

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詳細(xì)介紹

高低頻介電常數(shù)測(cè)試儀

GCSTD-D

一、滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

GB/T1693-2007 硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法

ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數(shù)的測(cè)試方法

二、技術(shù)要求：

接觸法：適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑材料

電類型：固定電-測(cè)量電φ38mm

測(cè)試頻率：20HZ-2MHZ

測(cè)試電：黃銅電

測(cè)試環(huán)境：室溫

三、軟件功能：

* 1、測(cè)試頻率可以掃描進(jìn)行測(cè)試

*2、測(cè)試頻率可以單點(diǎn)測(cè)試

*3、測(cè)試頻率可以多頻設(shè)置測(cè)試

4、測(cè)試速度模式：快速、中速、慢速

5、測(cè)試數(shù)據(jù)與曲線顯示：

*6、電阻率—測(cè)試頻率

*7、jue對(duì)介電常數(shù)--測(cè)試頻率

*8、相對(duì)介電常數(shù)--測(cè)試頻率

*9、相對(duì)介電常數(shù)虛部--測(cè)試頻率

*10、相對(duì)介電常數(shù)實(shí)部--測(cè)試頻率

*11、介質(zhì)損耗--測(cè)試頻率

*12、電容值--測(cè)試頻率

四、隨機(jī)配置

1、主機(jī)：1臺(tái)

2、測(cè)試電：1套

3、數(shù)據(jù)線：1套

4、電源線：1根

5、合格證：一份

6、測(cè)試系統(tǒng)：一套

五 、測(cè)試電橋參數(shù)

測(cè)試參數(shù)	C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
測(cè)試頻率		20 Hz～2MHz,10mHz步進(jìn)
測(cè)試信號(hào)電	f≤1MHz	10mV～5V,±（10%+10mV）
平	f>1MHz	10mV～1V,±（20%+10mV)
輸出阻抗	10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本zhun確度	0.1%
	L	0.0001 uH ～ 9.9999kH
	C	0.0001 pF ～ 9.9999F
	R,X,Z,DCR	0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ
顯示范圍	Y, B, G	0.0001 nS ～ 99.999 S
	D	0.0001 ～ 9.9999
	Q	0.0001 ～ 99999
	θ	-179.99°～ 179.99°
測(cè)量速度	快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
校準(zhǔn)功能	開(kāi)路 / 短路點(diǎn)頻、掃頻清零，負(fù)載校準(zhǔn)
等效方式	串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式
量程方式	自動(dòng), 保持
顯示方式	直讀, Δ, Δ%
觸發(fā)方式	內(nèi)部, 手動(dòng), 外部, 總線
內(nèi)部直流偏	電壓模式	-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進(jìn)
置源	電流模式（內(nèi)阻為50Ω）	-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jìn)
比較器功能	10檔分選及計(jì)數(shù)功能
顯示器	320×240點(diǎn)陣圖形LCD顯示
存儲(chǔ)器	可保存20組儀器設(shè)定值
	USB DEVICE( USBTMC ａnd USBCDC support)
	USB HOST(FAT16 ａnd FAT32 support)
接口	LAN(LXI class C support)
	RS232C
	HANDLER
	GPIB（選件）