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便攜式X射線殘余應(yīng)力分析儀-μ-X360s

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產(chǎn)品型號μ-X360s

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更新時(shí)間：2025-03-10 07:50:39瀏覽次數(shù)：1次

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上海洛豐精密檢測儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

X射線是表面殘余應(yīng)力測定技術(shù)中為數(shù)不多的無損檢測法之一，是根據(jù)材料或制品晶面間距的變化測定應(yīng)力的，至今仍然是研究得較為廣泛、深入、成熟的殘余應(yīng)力分析和檢測方法之一，被廣泛的應(yīng)用于科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)的各領(lǐng)域。2012年日本Pulstec公司開發(fā)出基于全二維探測器技術(shù)的新一代X射線殘余應(yīng)力分析儀——μ-X360n，將利用X射線研究殘余應(yīng)力的測量速度和精度推到了一個(gè)全新的高度，設(shè)備推出不久便得到業(yè)界的廣泛好評。由于其技術(shù)之、測試數(shù)據(jù)可重復(fù)性之高、使用之便攜，設(shè)備一經(jīng)推出便備受業(yè)界青睞！近期，日本Pulstec公司成功克服技術(shù)難點(diǎn)，發(fā)布了新的產(chǎn)品型號：μ-X360s，將全二維面探測器技術(shù)的產(chǎn)品設(shè)計(jì)和功能完善再次升級！

詳細(xì)介紹

新一代μ-X360s具有以下優(yōu)點(diǎn)：

更快速：二維探測器一次性采集獲取完整德拜環(huán)，單角度一次入射即可完成殘余應(yīng)力測量。

更精確：X射線單次曝光可獲得500個(gè)衍射點(diǎn)進(jìn)行殘余應(yīng)力數(shù)據(jù)擬合，結(jié)果精確。

更輕松：無需測角儀，單角度一次入射即可，復(fù)雜形狀和狹窄空間的測量比較輕松。

更方便：無需任何液體冷卻裝置，支持便攜電池供電。

更強(qiáng)大：支持?jǐn)U展區(qū)域應(yīng)力分布自動(dòng)測量功能，具備晶粒尺寸均勻性、材料織構(gòu)、殘余奧氏體含量分析等功能。

參數(shù)

準(zhǔn)直器尺寸	X射線管參數(shù) 30KV 1.5mA
X射線管所用靶材	標(biāo)配：鉻靶（可選配其他）
是否需要冷卻水	無需
是否需要測角儀	無需
X射線入射角度	單一入射角即可獲取全部數(shù)據(jù)
所用探測器	二維探測器
直接測量參數(shù)	殘余應(yīng)力衍射峰的半峰高全寬
電源參數(shù)	130W功率 110-240V 50-60HZ
可否戶外現(xiàn)場檢測	設(shè)備便攜、支持便攜電池供電