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冷熱沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)的試驗(yàn)設(shè)備，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間經(jīng)很高溫和極低溫的連續(xù)環(huán)境變化下其耐受程度，在最短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

產(chǎn)品型號(hào)	SS-LRCJ2-400	SS-LRCJ3-225
結(jié)構(gòu)方式	兩箱沖擊(提籃式）	三箱沖擊
工作室尺寸DWH	600600620mm	500600750mm
提籃尺寸DWH	400400400mm	/
標(biāo)稱內(nèi)容積	64L	225L
外形尺寸DWH	235013701950mm	170020002200mm
主要技術(shù)參數(shù)	（1）溫度沖擊范圍：-55℃～+85℃；（2）溫度波動(dòng)度：≤±1.0℃；（3）低溫預(yù)冷：+25℃降至-55℃≤45min；（4）高溫預(yù)熱：+25℃升至+150℃≤25min；（5）提籃轉(zhuǎn)換時(shí)間：≤10s；（6）溫度恢復(fù)時(shí)間：≤5min。	（1）溫度沖擊范圍：-55℃～+150℃；（2）溫度波動(dòng)度：≤±1.0℃；（3）低溫預(yù)冷：+25℃降至-60℃≤50min；（4）高溫預(yù)熱：+25℃升至+150℃≤25min；（5）風(fēng)門切換時(shí)間：5s；（6）溫度恢復(fù)時(shí)間：≤5min。
滿足標(biāo)準(zhǔn)	GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫； GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫； GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn) N:溫度變化； GB/T 10592-2023 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；以上標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范如果被新標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范替代，執(zhí)行新的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范。