產(chǎn)品展示
XRF-2000PCB線路板金屬鍍層測(cè)厚儀
【簡單介紹】
【詳細(xì)說明】
X熒光射線膜厚與元素(RoHS)分析儀 XRF-2000 (R)系列
H-Type
L-Type
PCB-Type
介紹:
X熒光射線膜厚分析儀是利用XRF原理來分析測(cè)量金屬厚度及物質(zhì)成分,可用于材料的涂層/鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測(cè)。XRF-2000系列分為以下三種:
1. H-Type: 密閉式樣品室,方便測(cè)量的樣品較大,高度約100mm以下。
2. L-Type: 密閉式樣品室,方便測(cè)量 樣品較小,高度約30mm以下。
3. PCB-Type: 開放式樣品室,方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測(cè)。
4. R-Type: 結(jié)合膜厚量測(cè),元素成份及含量分析功能(RoHS分析儀)。
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郵編:201803
聯(lián)系人:丁成峰
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商鋪:http://sixdu.net/st37133/
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