Cu/XXXRF膜厚片
【簡單介紹】
【詳細說明】
美國Calmetrics 測厚儀校正片
每片厚度均通過美國N.I.S.T鑒定機構(gòu)認證(有證書)
薄片類型:(以下為常規(guī)厚度,上海益朗儀器有限公司接受非標定做)
量測成份: | 厚度值(單位:μm) |
ALUMINUM (Al) | 1.00、3.00、5.00、12.5 |
CADMIUM (Cd) | 1.00、2.00、5.00、10.0、15.0 |
CHROMIUM (Cr) | 0.05、0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、5.00、10.0 |
COBALT (Co) | 0.05、0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、3.00 |
COPPER (Cu) | 0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、5.00、10.0、20.0、35.0 |
GOLD (Au) | 0.05、0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、3.00、5.00 |
IRON (Fe) | 2.00、6.00 |
LEAD (Pb) | 0.25、1.00、2.00、4.00、9.00 |
NICKEL (Ni) | 0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、2.50、3.00、5.00、8.00、10.0、20.0、27.5 |
NICKEL-PHOSPHORUS (Ni-P, 8% P) | 2.50、6.00、9.00、18.0 |
PALLADIUM (Pd) | 0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、3.00、5.00 |
PLATINUM (Pt) | 0.50、1.00 |
SILVER (Ag) | 0.10、0.25、1.00、2.00、5.00、10.0、20.0、30.0 |
SOLDER (Sn-Pb) | 5.00、6.00、10.0、14.0(60%Sn)5.00、6.00、14.0(90%Sn) |
TIN (Sn) | 0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、5.00、10.0、20.0、40.0、60.0 |
TITANIUM (Ti) | 0.50、1.00、5.00、10.0 |
ZINC (Zn) | 2.50、10.0、20.0 |
X射線鍍層測厚儀校正片通過A2LA(American Association for Laboratory Accreditation)認證,其專門為儀器大廠如Fischer、Oxford、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生產(chǎn)制作標準樣品。
應用:適用于Fischer、Oxford、CMI、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray(X射線測厚儀)、 Beta-ray及磁感式與渦電流等多種原理之各種規(guī)格與尺寸。
特色:標準片A2LA校正認證,質(zhì)量精良,精度高、穩(wěn)定性好
X-Ray、 Beta-Ray、磁感式、渦電流式標準片
測厚儀標準片又名膜厚儀校準片,專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系,來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
測厚儀標準片一般分為單鍍層片,雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學鍍層片。如:
單鍍層:Ag/xx,雙鍍層:Au/Ni/xx, 三鍍層:Au/Pd/Ni/xx,合金鍍層:Sn-Pb/xx, 化學鍍層:Ni-P/xx。(所有標準片都附有NIST認證證書)
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