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深圳市中圖儀器股份有限公司
主營產(chǎn)品： 激光干涉儀,測長機(jī),測長儀,輪廓測量儀,壓力校驗(yàn)儀 |
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深圳市中圖儀器股份有限公司
主營產(chǎn)品： 激光干涉儀,測長機(jī),測長儀,輪廓測量儀,壓力校驗(yàn)儀 |
| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱 | |||
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SuperViewW1國產(chǎn)白光干涉測量儀 簡單介紹：SuperViewW國產(chǎn)白光干涉測量儀是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測量的檢測儀器。它以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。 產(chǎn)品型號(hào)：SuperViewW1 所在地：深圳市 更新時(shí)間：2024-12-12 |
參考價(jià):¥960000 詢價(jià)留言 | ||
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SuperViewW1國產(chǎn)3D白光干涉儀 簡單介紹：SuperViewW1國產(chǎn)3D白光干涉儀可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。 產(chǎn)品型號(hào)：SuperViewW1 所在地：深圳市 更新時(shí)間：2024-03-07 |
參考價(jià):¥960000 詢價(jià)留言 | ||
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SuperViewW1白光干涉微觀形貌儀 簡單介紹：中圖儀器SuperViewW1白光干涉微觀形貌儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸?？蓮V泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。 產(chǎn)品型號(hào)：SuperViewW1 所在地：深圳市 更新時(shí)間：2023-11-16 |
參考價(jià):¥960000 詢價(jià)留言 | ||
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SuperViewW1白光干涉三維形貌測量儀 簡單介紹：SuperViewW1白光干涉三維形貌測量儀用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測量，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，提供依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT四大國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)共計(jì)300余種2D、3D參數(shù)作為評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn). 產(chǎn)品型號(hào)：SuperViewW1 所在地：深圳市 更新時(shí)間：2023-11-01 |
參考價(jià):¥960000 詢價(jià)留言 | ||
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SuperViewW1白光干涉三維輪廓儀chotest 簡單介紹：SuperViweW1白光干涉三維輪廓儀chotest除主要用于測量表面形貌或測量表面輪廓外，白光干涉儀具有的測量晶圓翹曲度功能，非常適合晶圓，太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量，應(yīng)變測量以及表面形貌測量?？蛇m用于從平面到弧面、超光滑到粗糙等各種表面類型，其3D重建算法，自動(dòng)濾除樣品表面噪點(diǎn)，在硬件系統(tǒng)的配合測量精度可達(dá)亞納米級(jí)別，讓3D測量變得簡單。 產(chǎn)品型號(hào)：SuperViewW1 所在地：深圳市 更新時(shí)間：2023-10-07 |
參考價(jià):¥960000 詢價(jià)留言 | ||
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SuperViewW1白光干涉輪廓儀 簡單介紹：SuperViewW1白光干涉輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理，可測2D/3D輪廓、粗糙度，300余種特征參數(shù)，在半導(dǎo)體、精密加工及微納材料等領(lǐng)域，測光滑硅晶片表面粗糙度、精密非球面弧面線粗糙度、金字塔型磁頭夾角、微透鏡陣列曲率半徑等。 產(chǎn)品型號(hào)：SuperViewW1 所在地：深圳市 更新時(shí)間：2023-09-22 |
參考價(jià):¥960000 詢價(jià)留言 | ||
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SuperViewW1國產(chǎn)三維白光干涉儀 簡單介紹：SuperViewW1國產(chǎn)三維白光干涉儀以白光干涉技術(shù)原理，結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測量，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。 產(chǎn)品型號(hào)：SuperViewW1 所在地：深圳市 更新時(shí)間：2023-09-13 |
參考價(jià):¥960000 詢價(jià)留言 | ||
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SuperViewW1白光干涉儀三維輪廓儀 簡單介紹：SuperViewW1白光干涉儀三維輪廓儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。設(shè)備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺(tái)階高、角度等輪廓尺寸測量功能。 產(chǎn)品型號(hào)：SuperViewW1 所在地：深圳市 更新時(shí)間：2023-09-07 |
參考價(jià):¥960000 詢價(jià)留言 | ||
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SuperViewW1三維白光干涉儀 簡單介紹：SuperViewW1三維白光干涉儀結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)，從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測量。 產(chǎn)品型號(hào)：SuperViewW1 所在地：深圳市 更新時(shí)間：2023-08-28 |
參考價(jià):¥960000 詢價(jià)留言 | ||
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SuperViewW1白光干涉儀顯微鏡 簡單介紹：白光干涉儀顯微鏡以白光干涉技術(shù)原理，對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測量的儀器，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。 產(chǎn)品型號(hào)：SuperViewW1 所在地：深圳市 更新時(shí)間：2023-08-22 |
參考價(jià):¥960000 詢價(jià)留言 | ||
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SuperViewW1白光干涉三維形貌儀 簡單介紹：白光干涉三維形貌儀測量中提供自動(dòng)對(duì)焦、自動(dòng)找條紋、自動(dòng)調(diào)亮度等自動(dòng)化輔助功能；通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。 產(chǎn)品型號(hào)：SuperViewW1 所在地：深圳市 更新時(shí)間：2023-08-18 |
參考價(jià):¥960000 詢價(jià)留言 | ||
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SuperViewW1三維白光干涉表面形貌儀 簡單介紹：CHOTEST中圖儀器SuperViewW1三維白光干涉表面形貌儀集成X、Y、Z三個(gè)方向位移調(diào)整功能的操縱手柄，可快速完成載物臺(tái)平移、Z向聚焦、找條紋等測量前工作。測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。 產(chǎn)品型號(hào)：SuperViewW1 所在地：深圳市 更新時(shí)間：2023-08-08 |
參考價(jià):¥960000 詢價(jià)留言 | ||
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SuperViewW1chotest國產(chǎn)白光干涉儀 簡單介紹：chotest國產(chǎn)白光干涉儀是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測量的檢測儀器，它以白光干涉技術(shù)原理，對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測量的儀器，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。 產(chǎn)品型號(hào)：SuperViewW1 所在地：深圳市 更新時(shí)間：2023-08-01 |
參考價(jià):¥960000 詢價(jià)留言 | ||
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SuperViewW1國產(chǎn)白光干涉儀 簡單介紹：SuperViewW1國產(chǎn)白光干涉儀設(shè)備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺(tái)階高、角度等輪廓尺寸測量功能；可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。 產(chǎn)品型號(hào)：SuperViewW1 所在地：深圳市 更新時(shí)間：2023-05-25 |
參考價(jià):¥960000 詢價(jià)留言 | ||
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SuperViewW1三維白光形貌干涉儀 簡單介紹：除主要用于測量表面形貌或測量表面輪廓外，SuperViewW1三維白光形貌干涉儀具有的測量晶圓翹曲度功能，非常適合晶圓，太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量，應(yīng)變測量以及表面形貌測量。 產(chǎn)品型號(hào)：SuperViewW1 所在地：深圳市 更新時(shí)間：2022-12-14 |
參考價(jià):¥960000 詢價(jià)留言 | ||
