深圳海納光學(xué)與以色列DUMA公司達(dá)成一致的代理協(xié)議，專門提供的光束質(zhì)量分析儀由七刀口式Beam Analyzer和移動(dòng)平臺(tái)組成，通過(guò)采集多個(gè)測(cè)量面實(shí)現(xiàn)對(duì)M²因子的測(cè)量，整體準(zhǔn)確度保持在±5％范圍內(nèi)，滿足用戶對(duì)光束質(zhì)量參數(shù)的需求，主要包括M2因子，發(fā)散角以及束腰參數(shù)等數(shù)據(jù)的檢測(cè)。

光束質(zhì)量分析儀由于Beam Analyzer應(yīng)用刀口式掃描的原理，需要通過(guò)刀口截取激光面，因此無(wú)法實(shí)現(xiàn)對(duì)脈沖激光的檢測(cè)。為了滿足用戶對(duì)測(cè)量激光種類的需求，以色列DUMA公司為用戶提供了特殊型號(hào)選擇，M2Beam-U3-VIS-NIR。該型號(hào)采取CMOS傳感器搭配移動(dòng)平臺(tái)，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)220-1600nm波段脈沖激光的測(cè)量，解決了用戶對(duì)脈沖激光檢測(cè)的需求。刀口式掃描分析原理的測(cè)量精度與光束尺寸無(wú)關(guān)，因此對(duì)于微米級(jí)的激光束，刀口掃描式分析相比于狹縫或針孔式原理的測(cè)量精度略高，M2Beam激光光束分析儀可以實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)監(jiān)控激光光束質(zhì)量，配置USB3.0接口，通過(guò)連接移動(dòng)端，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)快速傳輸以及便捷使用。

海納光學(xué)提供M2Beam光束質(zhì)量分析儀的普通版本以及高功率版本，通過(guò)配置風(fēng)冷束流采樣器，可以實(shí)現(xiàn)高達(dá)4 KW功率的檢測(cè)，從而保護(hù)探測(cè)頭不受功率損傷。

光束質(zhì)量分析儀M2Beam產(chǎn)品特點(diǎn)：

-可檢測(cè)連續(xù)激光以及脈沖激光

-*的斷層圖像重建技術(shù)

-zui大25mm光束尺寸測(cè)量

-USB3.0接口快速數(shù)據(jù)傳輸

-激光質(zhì)量監(jiān)控

-可配置采樣器，實(shí)現(xiàn)高功率激光檢測(cè)

-即插即用，使用便捷 

光束分析儀M2Beam產(chǎn)品規(guī)格參數(shù)：

-輸入光束

激光質(zhì)量分析儀 M2Beam M2Beam U3

技術(shù)工藝 刀口式掃描原理，應(yīng)用Si探測(cè)器，InGaAs探測(cè)器和增強(qiáng)型InGaAs探測(cè)器 USB 3.0接口

CMOS 2.4MP

內(nèi)置過(guò)濾論

光譜響應(yīng)（nm） SI傳感器：350-1100

InGaAs傳感器：800-1800

Enhanced InGaAs 傳感器：800-2700 VIS-NIR：350-1600

UV-NIR：220-1350

激光功率范圍 Si：100 μW-1 W（帶衰減片）

InGaAs&UV：100 μW-5 mW

HP：4 kW以下 10μW-100mW，內(nèi)置濾光輪

HP：4 kW

刀口數(shù) 7 —

光束尺寸 帶透鏡高達(dá)25mm直徑（Si&UV版本）

束腰到透鏡距離 2.0~2.5米*

zui小2米

-掃描裝配附件

材質(zhì) 鋁

透鏡焦距 300mm（在632.6nm時(shí)）

透鏡直徑 25mm

掃描次數(shù) 140

zui小步進(jìn)尺寸 100μm

掃描長(zhǎng)度 280mm

-整機(jī)

重量 2.5kg

尺寸 100×173×415 mm

托架 M6或1/4“固定

機(jī)械調(diào)整 水平角：±1.5°，垂直角：±1.5°

電纜長(zhǎng)度 2.5m

光束分析儀訂購(gòu)信息：

M2Beam-Si – measurement device for silicon range (350 – 1100nm)

M2Beam-UV – measurement device for silicon range (190 – 1100nm)

M2Beam-IR – measurement device for silicon range (800 – 1800nm)

M2Beam-U3-VIS-NIR - measurement device for 350-1600 nm CMOS based

M2Beam-UV-NIR – Special – consult factory.

SAM3-HP-M – beam sampler for high power beams