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Zeta100電位納米粒度分子量分析儀

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上海艾飛思精密儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

Zeta100是丹東百特儀器有限公司研發(fā)的一款集zeta電位、納米粒度分布、分子量測量三個功能于一體的表征納米顆粒尺寸及穩(wěn)定性的儀器。Zeta電位測量采用電泳光散射（ELS）原理，通過測量顆粒在電場中的運動速度進而得到zeta電位。一般來說，zeta電位越高，顆粒之間相互排斥越劇烈，分散體系越穩(wěn)定。納米粒度分布采用動態(tài)光散射（DLS）原理，顆粒在懸浮液中進行布朗運動，較小顆粒的移動速度快于較大顆粒，在某個角度檢測記錄散射光強，散射光強的相關(guān)曲線體現(xiàn)了顆粒的移動速度，利用這些信息可以計算顆粒的粒度分布。分子量測量采用靜態(tài)光散射（SLS）原理，散射光的強度與分子量直接相關(guān)。測量不同濃度中測量

詳細介紹

產(chǎn)品詳情

一、產(chǎn)品介紹

Zeta100是丹東百特儀器有限公司研發(fā)的一款集zeta電位、納米粒度分布、分子量測量三個功能于一體的表征納米顆粒尺寸及穩(wěn)定性的儀器。

Zeta電位測量采用電泳光散射（ELS）原理，通過測量顆粒在電場中的運動速度進而得到zeta電位。一般來說，zeta電位越高，顆粒之間相互排斥越劇烈，分散體系越穩(wěn)定。納米粒度分布采用動態(tài)光散射（DLS）原理，顆粒在懸浮液中進行布朗運動，較小顆粒的移動速度快于較大顆粒，在某個角度檢測記錄散射光強，散射光強的相關(guān)曲線體現(xiàn)了顆粒的移動速度，利用這些信息可以計算顆粒的粒度分布。分子量測量采用靜態(tài)光散射（SLS）原理，散射光的強度與分子量直接相關(guān)。測量不同濃度中測量散射光強，繪制德拜曲線即可得到樣品分子量。

二、主要技術(shù)指標與性能

Zeta電位測試

測試范圍	-500mv ~ 500mv	粒度范圍	1nm-9500nm（與樣品有關(guān)）
樣品池容積	400μl	測試原理	ELS（電泳光散射）
散射角	15 度	濃度	40% w/v
相關(guān)器	1000通道線性相關(guān)器	電導(dǎo)率范圍	200 mS/cm

粒度分布測試

粒度測試范圍	1-9500nm（與樣品有關(guān)）	測試原理	DLS( 動態(tài)光散射)
重復(fù)性誤差	≤1%（國標樣D50 偏差）	相關(guān)器	1000 個物理通道
準確性誤差	≤1%（國標樣D50 偏差）	光源	固體激光器
樣品池容積	1ml / 4ml	激光器波長	671nm
樣品池溫控范圍	15℃—90℃	激光器功率	50mW
溫控精度	±0.2℃	散射角	90 度

分子量測試

分子量范圍	1000Da—2x10⁷Da	準確性誤差	≤ 10%
測試原理	SLS（靜態(tài)光散射）	重復(fù)性誤差	≤ 5%

三、主要應(yīng)用領(lǐng)域

包括納米金屬氧化物、水處理、納米金屬粉、納米陶瓷材料、蛋白質(zhì)、聚合物膠乳、藥物制備、水/ 油乳液、油漆、涂料、顏料、油墨、調(diào)色劑、化妝品以及其它所有納米材料研究、納米材料制備與納米材料應(yīng)用等領(lǐng)域。

四、突出特點

BT-Zeta100電位測量采用電泳光散射（ELS）原理，通過測量顆粒在電場中的運動速度進而得到zeta電位。一般來說，zeta電位越高，顆粒之間相互排斥越劇烈，分散體系越穩(wěn)定。
納米粒度分布測量采用動態(tài)光散射（DLS）原理，顆粒在懸浮液中進行布朗運動，較小顆粒的移動速度快于較大顆粒，在某個角度檢測記錄散射光強，散射光強的相關(guān)曲線體現(xiàn)了顆粒的移動速度，利用這些信息可以計算顆粒的粒度分布。
分子量測量采用靜態(tài)光散射（SLS）原理，散射光的強度與分子量直接相關(guān)。測量不同濃度中測量散射光強，繪制德拜曲線即可得到樣品分子量。