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Nanonics近場掃描光學顯微鏡(NSOM)

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更新時間：2022-10-30 16:26:23瀏覽次數(shù)：113次

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產(chǎn)品簡介

Nanonics近場掃描光學顯微鏡(NSOM)是用于納米材料表征可獲得優(yōu)于光波長分辨率的手段。通常近場掃描光學顯微鏡與原子力顯微鏡(AFM)結(jié)合使用，因此近場掃描光學顯微鏡可以獲得材料光學與形貌相關(guān)的信息。近場掃描光學顯微鏡通常可以獲得以下信息： * 反射率的改變 * 透過率的改變 * 折射率、極化、樣品材料的改變 * 材料局部應(yīng)力的改變引起光學性質(zhì)改變 * 材

詳細介紹

詳情介紹：

Nanonics近場掃描光學顯微鏡(NSOM)技術(shù)參數(shù)

1 近場掃描光學顯微鏡(NSOM)操作模式: 透射模式，反射模式，收集模式，照明模式

2 原子力顯微鏡(AFM)操作模式: 敲擊模式，接觸模式(選配)，所有探針或樣品掃描的AFM操作模式

3 微分干涉對比(DIC) : 反射和透射

4 折射率成像(Refractive-Index Profiling): 反射和透射

5 在線遠場共聚焦(和拉曼及熒光光譜成像): 反射和透射，針對選擇性拉曼散射超薄膜的探針增強拉曼散射

6 熱傳導及擴展電阻成像:接觸模式，敲擊模式，音叉反饋模式(無反饋激光引入干擾信號,選配)；熱探針可作為納米加熱器使用，納米熱分析、納米相轉(zhuǎn)變等應(yīng)用

******************************SPM掃描頭規(guī)格**************************
1 樣品掃描器：壓電材料制薄片掃描器 (3D Flat Scanner™)；厚度為7毫米

2 SPM掃描范圍：樣品掃描，*大100 microns (XYZ)

3 掃描分辨率： < 0.005 nm (Z)
< 0.015 nm (XY)
< 0.002 nm (XY) 低電壓模式

4 粗調(diào)定位范圍：6毫米

5 反饋機制：懸臂梁光束反彈反饋，音叉反饋(選配)

6 樣品尺寸：標準配置下,直徑*大*16毫米；正置顯微鏡下使用,直徑*大*34毫米特殊樣品形狀：如豎直樣品進行邊緣成像等

7 探針：各種針尖外露的玻璃探針，各種常規(guī)懸臂梁硅探針均可使用

*******************************成像分辨率****************************
1 遠場：受光衍射幾何限制

2 光學： 500納米

3 共聚焦： 200納米

4 近場掃描光學： 100納米，條件下可達到50納米(由探針孔徑?jīng)Q定)

5 形貌： Z向噪聲0.05納米 rms；XY橫向分辨率：由針尖直徑和樣品的卷積決定

6 熱成像： 100納米起，溫度靈敏度0.01oC，300 oC或更高(由樣品決定)

7 電阻成像： 25納米

主要特點

1、支持探針+樣品掃描，這對于波導材料&光子結(jié)構(gòu)的收集模式NSOM和拉曼增強都有極大的幫助；

2、擁有*棒的反射模式NSOM，的硬件設(shè)計確保系統(tǒng)進行反射模式實驗時擁有與透射模式一樣的收集效率(而一般來說在相同的實驗條件下，反射模式效率比透射模式低三個量級)；

3、可以使用所有種類的NSOM探針，包括我們的懸臂梁玻璃探針、直光纖探針、帶孔洞的懸臂硅探針、SERS探針、化學傳感Sol-gel探針等…；

4、我們磚利的玻璃探針種類很多，包括NSOM探針、AFM探針、深溝探針、中空AFM探針、拉曼增強探針、離子敏感探針、玻璃絕緣納米金屬絲探針、納米電極、納米鑷子、熱探針(納米加熱)等等…；

5、可以進行非接觸NSOM實驗(采用帶孔洞的懸臂硅探針無法做到)；

6、針對液體生物材料NSOM成像擁有更強的信號(信號強三個量級)；

7、XYZ向大范圍的掃描尤其是100微米深的Z向掃描范圍，對于大尺寸納米粒子、粗糙的表面SPM實驗及共聚焦集成都是必須的；

8、的深溝探針及Flat scan™掃描器可用于帶深溝的MEMs和半導體器件掃描；

9、*佳的熱傳導模式成像，支持接觸模式、非接觸模式熱成像，100納米分辨率起；

10、采用磚利的FPNTM技術(shù)，進**態(tài)或液態(tài)材料(蛋白質(zhì)、氯氣等類似材料)納米加工；

11、的雙探針SPM&NSOM系統(tǒng)；

12、可與微拉曼光譜、SEM、FIB、光學顯微鏡實時在線聯(lián)用；

13、可以升級進行條件下的NSOM或AFM工作……

儀器介紹

近場掃描光學顯微鏡(NSOM)也習慣稱為掃描近場光學顯微鏡(SNOM)，是用于納米材料表征可獲得優(yōu)于光波長分辨率的手段。通常近場掃描光學顯微鏡與原子力顯微鏡(AFM)結(jié)合使用，因此近場掃描光學顯微鏡可以獲得材料光學與形貌相關(guān)的信息。近場掃描光學顯微鏡通常可以獲得以下信息：

* 反射率的改變
* 透過率的改變
* 折射率、極化、樣品材料的改變
* 材料局部應(yīng)力的改變引起光學性質(zhì)改變
* 材料磁的性質(zhì)改變引起光學性質(zhì)改變
* 分子熒光
* 拉曼遷移、SHG或其他效應(yīng)引起的分子激勵

**********************近場掃描光學顯微鏡的基本構(gòu)造********************
進行NSOM實驗，必須將點光源靠到樣品表面納米距離，然后點光源掃描樣品表面，再收集探測經(jīng)過樣品表面的光學信號。我們使用經(jīng)金屬涂層處理的帶孔洞椎形光纖作為NSOM探針。光經(jīng)耦合進入探針，從亞光波長孔徑的探針**發(fā)出，NSOM的分辨率就是由孔徑的大小決定(*優(yōu)可以達到50納米)。點光源和樣品表面的距離通常通過正常的力反饋機制(與AFM相同)控制，因此可以進行接觸、敲擊和非接觸模式的NSOM實驗。針對不同的材料和實驗，通常有四種NSOM操作模式：

* 透射模式成像——樣品經(jīng)過探針照明，光通過樣品并與樣品相互作用后被收集探測；
* 反射模式成像——樣品經(jīng)過探針照明，光從樣品表面反射并被收集探測；
* 收集模式成像——樣品經(jīng)遠場光源照明(從上或下面均可)，探針將光信號從樣品表面收集；
* 照明收集模式成像——用同一根探針同時進行照明和收集探測反射光；

收集的光可通過多種探測器探測，如APD(Avalanche Photo Diode)、PMT(Photomultiplier Tube)、InGaAs探測器、CCD或通過光譜儀探測，通過探測器得到的信號經(jīng)過數(shù)據(jù)處理得到樣品材料的NSOM圖像。