詳細摘要: 美國FEI掃描電子顯微鏡主要特點:1.FEI ESEM(環(huán)境掃描電鏡)技術,可在高真空、低真空和環(huán)境真空條件下對各種樣品進行觀察和分析。2.所有真空條件下的二次...
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詳細摘要: 美國FEI掃描電子顯微鏡主要特點:1.FEI ESEM(環(huán)境掃描電鏡)技術,可在高真空、低真空和環(huán)境真空條件下對各種樣品進行觀察和分析。2.所有真空條件下的二次...
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