XRF9能量色散X射線熒光分析儀

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更新時間：2025-03-23 14:42:50瀏覽次數：7次

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產品簡介

XRF9能量色散X射線熒光分析儀采用薄樣技術與厚樣技術相結合的方式，既可以對大量樣品進行無損檢測，也可以對塊狀固體，固體粉末和液體樣品等進行實驗室級別的元素分析。特別適宜于針對RoHS指令的多元素測試。

詳細介紹

XRF9能量色散X射線熒光分析儀采用薄樣技術與厚樣技術相結合的方式，既可以對大量樣品進行無損檢測，也可以對塊狀固體，固體粉末和液體樣品等進行實驗室級別的元素分析。特別適宜于針對RoHS指令的多元素測試。

XRF9能量色散X射線熒光分析儀物理原理
當材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發(fā)生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅逐內層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩(wěn)定，在外軌道的電子會“回補”進入低軌道，以遺留下來的洞。在“回補”的過程會釋出多余的能源，光子能量是相等兩個軌道的能量差異的。因此，物質放射出的輻射，這是原子的能量特性。

特點：

· 采用多光束可調節(jié)系統(tǒng)

· 高分辨率探測器

· 采用XYZ三維運動樣品臺

· 大型樣品分析室

· CCD攝像及自動定位系統(tǒng)

· 自動調節(jié)雙層六通道濾光系統(tǒng)

主要技術指標

分析原理能量色散X射線熒光分析法

分析元素 Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）

Na～U(任選：φ1.2mm/φ0.1mm切換方式型）

檢出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm