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高品質(zhì)的熔點(diǎn)儀XPR-300C

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上海豫光儀器有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

一、儀器的主要用途和特點(diǎn)

詳細(xì)介紹

一、儀器的主要用途和特點(diǎn)

　　XPR-300型透射偏光熔點(diǎn)測(cè)定儀是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、石油化工、化學(xué)纖維、半導(dǎo)體工業(yè)以及藥品檢驗(yàn)等部門(mén)和相關(guān)高等院校的高分子等專(zhuān)業(yè)常用的專(zhuān)業(yè)實(shí)驗(yàn)儀器。可供廣大用戶(hù)作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來(lái)觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。

　　本系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于高分子材料、聚合物材料等化工領(lǐng)域，適用于研究物體的結(jié)晶相態(tài)分析、共混相態(tài)分布、粒子分散性及尺寸測(cè)量、結(jié)晶動(dòng)力學(xué)的過(guò)程記錄分析、液晶分析、織態(tài)結(jié)構(gòu)分析、熔解狀態(tài)記錄觀察分析等多研究方向。

　偏光顯微熔點(diǎn)測(cè)定儀XPR-300系統(tǒng)匯集了光電、模式識(shí)別、精密加工、圖象學(xué)、自動(dòng)控制、模量學(xué)等多研究領(lǐng)域的技術(shù)，是多年研究開(kāi)發(fā)的結(jié)果，本儀器具有可擴(kuò)展性，可以接計(jì)算機(jī)和數(shù)碼相機(jī)。對(duì)圖片進(jìn)行保存、編輯和打印。

二、儀器的主要技術(shù)指標(biāo)

1.顯微鏡技術(shù)參數(shù):

名稱(chēng)	規(guī)格
總放大倍數(shù)：	40X---630X
無(wú)應(yīng)力消色差物鏡	4X/0.1
	10X/0.25
	25X/0.40
	40X/0.65 彈簧
	63X/0.85 彈簧
目鏡	10X 十字目鏡
目鏡	10X 分劃目鏡
試片	石膏 1λ 試片
	云母 1/4λ 試片
	石英楔子試片
測(cè)微尺	0.01mm
濾色片	藍(lán)色
帶座目鏡網(wǎng)絡(luò)尺
移動(dòng)尺	移動(dòng)范圍 30mm×40mm
鏡筒	三目觀察

2.熔點(diǎn)儀技術(shù)參數(shù):

熱臺(tái)組成	性能
顯微精密控溫儀	在 20倍物鏡下工作溫度可達(dá)到300 ℃ 、溫度運(yùn)行程序全自動(dòng)控制；溫度程序段由用戶(hù)自行設(shè)定， 30段溫度編程，循環(huán)操作，能比較準(zhǔn)確的反映設(shè)定溫度、爐芯溫度、樣品的實(shí)際溫度。每段設(shè)定起始溫度，及在該段內(nèi)可維持時(shí)間，升溫速率可調(diào)、精度 ± 0.3 ℃、記憶點(diǎn)讀數(shù)
顯微加熱平臺(tái)	可以隨載物臺(tái)移動(dòng)、工作區(qū)加熱面積大、透光區(qū)域可調(diào)、工作區(qū)溫度梯度低于± 0.1 · 起始溫度室溫 ·工作區(qū)加熱使用面積至少 1X1厘米 · 工作區(qū)溫度梯度不超過(guò) ± 0.1 · 透光區(qū)域 2mm以上，可調(diào) · 顯示溫度與實(shí)際溫度誤差不超過(guò) ± 0.2 · 熱臺(tái)可以隨載物臺(tái)移動(dòng) 在加熱狀態(tài)下可使用 20倍物鏡
注意：熔點(diǎn)測(cè)定（溫度超過(guò)100度時(shí)，25X的物鏡工作距離太近，容易損壞鏡頭，請(qǐng)選用長(zhǎng)工作距離的物鏡25X、40X的物鏡）

三、系統(tǒng)的擴(kuò)展性

　 XPR-300C型偏光熔點(diǎn)儀系統(tǒng)是將精密的光學(xué)顯微鏡技術(shù)、*的光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、優(yōu)異的計(jì)算機(jī)成像技術(shù)和精密的溫控技術(shù)結(jié)合在一起而開(kāi)發(fā)研制成功的一項(xiàng)科技產(chǎn)品?？梢栽谟?jì)算機(jī)上很方便地觀察不同溫度下的偏光效果圖像，并對(duì)偏光圖譜進(jìn)行分析,處理,還可輸出或打印偏光圖片。